局部放電測試儀專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)解析
點(diǎn)擊次數:1415 更新時(shí)間:2016-11-02
小編為大家總結了一些關(guān)于
局部放電測試儀的專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ),希望能夠幫助大家了解
局部放電測試儀。
1、局部放電測試儀中的局部放電是指在絕緣的局部位置放電,它并不構成整個(gè)絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式:內部放電(在介質(zhì)內部)、沿面放電(在介質(zhì)表面)、電暈放電(在電極)。
2、電荷量q在試品兩端瞬時(shí)注入一定電荷量,使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同,此注入量即為局部放電的視在電荷量。
3、視在放電量校準器
局部放電測試儀的視在放電量校準器是一標準電量發(fā)生器,試驗前它以輸出某固定電量加之試品兩端,模擬該試品在此電量下放電時(shí)局部放電測試儀的響應,此時(shí)調整刻度系數,確定局部放電檢測儀的量程,以便在試驗時(shí)測量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時(shí)以標準電量發(fā)生器比較后間接測出,而非直接測出,故此放電量稱(chēng)為“視在放電量”。
校正電量發(fā)生器是測量局部放電時(shí)*的儀器,它的性能參數直接關(guān)系到測試結果的準確性。視在放電量校準器由校準脈沖電壓發(fā)生器和校準電容串聯(lián)組成,其參數主要包括:脈沖波形上升時(shí)間、衰減時(shí)間、內阻、脈沖峰值、校準電容值等。校準脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時(shí)間為從0.1U0到0.9U0的時(shí)間,衰減時(shí)間定義為從峰值下降到0.1U0的時(shí)間。
4、檢測阻抗
局部放電測試儀的檢測阻抗是拾取檢測信號的裝置,在使用中,應根據不同的測試目的,被試品的種類(lèi)來(lái)選擇合適的檢測阻抗,以提高局部放電測量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。檢測阻抗按調諧電容范圍分1~12號。
5、時(shí)間窗
局部放電測試儀的時(shí)間窗是為防止大于局部放電的干擾信號進(jìn)入峰值檢波電路而設計的一種電路裝置。因在實(shí)際試驗時(shí),尤其是在現場(chǎng)做試驗時(shí),不可避免地會(huì )引入一些干擾,所以,時(shí)間窗的使用更顯得重要。